随着微型通讯、微型导航定位、微波通信、移动通信、遥测遥控、雷达天线、战机隐身技术等领域的飞速发展，天线行业已在国民经济中占据越来越重要的地位，尤其是移动通信天线、卫星通信天线、微波通信等技术的飞速发展和广泛应用，提高微波测量精密定位系统的技术水平就显得非常重要，也十分关键。

在众多微波天线测量测试系统中，CATR （紧缩场测试法）应用场景很丰富，该法是用紧 缩场反射面馈源系统来模拟一个无限远场区，将馈源发射的球面波，反射成为一个伪平面相位波前，来完成天线的方向图测量。反射面精度要求由两部分组成，第一 部分是反射面本体的型面精度第二部分是反射面在暗室中 的安装定位精度，即是反射面实物和理论设计模 型在空间的安装拟合误差。