点云分析中的最高性能

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Metrolog X4旨在处理和分析最大体量和最密集的点云。

Metrolog X4 集成了高效光学测量功能所需的最新技术，可确保无论使用哪种设备都能获得最佳的结果。

使用CAD（彩图分布）进行云比较。

元素提取和自动GD＆T。

直观的间隙和面差。

测量并补偿材料厚度。

根据表面积估算零件质量（面积计算）。

增强的界面可为最终用户带来流畅的体验

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可以根据操作员的习惯、设备类型和测量方法完全自定义用户界面。

全新的手动采点助手。

采集过程中自动查看方向。

多个信息窗口（位置和结果）。

随时可切换的19种语言系统。

让复杂的GD&T分析简单化

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Metrolog X4 具有新的几何和尺寸公差处理引擎，可在既定时间内处理最复杂的情况。

简化了几何公差定义。

“专家”级系统，确保了正确的评估方法和结果。

全面支持符合给定标准的公差评估。

支持ANSI和ISO标准。

检测结果得到PTB和NIST组织的认证和认可。